PEM 电导率测量装置

    用于ProboStat™的聚合物电解质膜(PEM)样品架是一个PEEK头,可安装在标准ProboStat™支撑管的顶部。 它具有一个带有4个线电极的顶部水平表面,通过ProboStat™的弹簧将聚合物膜压在其上,主要用于测量聚合物电解质膜样品以及其他柔性和/或软膜的面内电导率。它可以在PEEK和金属零件稳定的温度和条件下运行,长时间内可保持约200℃高温,短期内可达 250℃。PEEK头是可更换的。

      规格

  •  核心材料:PEEK

  •  电极:4个(4条集成导线型的)电极

  •  电极线:Au(默认),Pt或Ag(所有均可更换)

  •  ProboStat™基座触点:标准Pt或任何其他金属(例如Cu)线

  •  安装:任意长度的ProboStat™20 mm标准支撑管

  •  样品固定:标准ProboStat™弹簧固定系统

  •  温度范围:RT-200〜300°C

  •  加热:加热套或管式炉(不包括在内)

  •  气体(ProboStat™):氧化,惰性,还原,腐蚀,湿或干性气体




 

 

      配件

  •  穿孔的PEEK板;

  •  PEEK头带有4个双面双电极线螺丝端子;

  • 4条(短)电极线,直径为0.5毫米,通常为Pt,Au或Cu。可预先安装在PEEK头中。如果订购,则可以单独提供额外的电极线;

  • 4个(长)电极线,直径为0.5 毫米,通常为Pt,Au或Cu,其长度取决于支撑管长度。它们的一端具有凹形微型触点,并且用塑料绝缘或配有陶瓷绝缘管;

  • 热电偶组件TCI-P由两孔氧化铝管中的S型或K型热电偶导线组成,具有微型触点和有颜色区别的导线绝缘。




 

 

       Nafion®N-115膜的测量示例

  •  首次进行四电极测量–接触不良的极化电极 

       Nafion N-115及其等效电路在室温环境温度下的Nyquist图,通过4电极配置

进行测量。高频电弧归因于整体响应,而电极响应的伪影则在低频下可见。图表

中的两个数字显示了交流频率范围。

 

 

  •  温度依赖性

       在恒定的水分压下,Nafion N-115的对数电导率是绝对温度倒数的函数。

 

 

 

 

 

 

 

 

     

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