NANO ROCKS Energy Materials. Technologies and Scientific Equipment
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Energy Materials
Technologies and Scientific Equipment
PEM 电导率测量装置
用于ProboStat™的聚合物电解质膜(PEM)样品架是一个PEEK头,可安装在标准ProboStat™支撑管的顶部。 它具有一个带有4个线电极的顶部水平表面,通过ProboStat™的弹簧将聚合物膜压在其上,主要用于测量聚合物电解质膜样品以及其他柔性和/或软膜的面内电导率。它可以在PEEK和金属零件稳定的温度和条件下运行,长时间内可保持约200℃高温,短期内可达 250℃。PEEK头是可更换的。
规格
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核心材料:PEEK
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电极:4个(4条集成导线型的)电极
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电极线:Au(默认),Pt或Ag(所有均可更换)
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ProboStat™基座触点:标准Pt或任何其他金属(例如Cu)线
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安装:任意长度的ProboStat™20 mm标准支撑管
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样品固定:标准ProboStat™弹簧固定系统
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温度范围:RT-200〜300°C
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加热:加热套或管式炉(不包括在内)
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气体(ProboStat™):氧化,惰性,还原,腐蚀,湿或干性气体
配件
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穿孔的PEEK板;
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PEEK头带有4个双面双电极线螺丝端子;
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4条(短)电极线,直径为0.5毫米,通常为Pt,Au或Cu。可预先安装在PEEK头中。如果订购,则可以单独提供额外的电极线;
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4个(长)电极线,直径为0.5 毫米,通常为Pt,Au或Cu,其长度取决于支撑管长度。它们的一端具有凹形微型触点,并且用塑料绝缘或配有陶瓷绝缘管;
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热电偶组件TCI-P由两孔氧化铝管中的S型或K型热电偶导线组成,具有微型触点和有颜色区别的导线绝缘。
Nafion®N-115膜的测量示例
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首次进行四电极测量–接触不良的极化电极
Nafion N-115及其等效电路在室温环境温度下的Nyquist图,通过4电极配置
进行测量。高频电弧归因于整体响应,而电极响应的伪影则在低频下可见。图表
中的两个数字显示了交流频率范围。
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温度依赖性
在恒定的水分压下,Nafion N-115的对数电导率是绝对温度倒数的函数。
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