塞贝克系数测量

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      利用ProboStat来测量塞贝克系数时，有多种方法可供使用。其中标准方法是将一个条状样品悬于两个热电偶尖端，测量样品两端温度，然后上下热电偶+或-极之间的电势差就是样品两端电压。或者使用单独的电极进行样品电压测量，如图所示。

       样品的温度梯度要么是自然发生的炉梯度，要么是由置于弹簧顶片上的小型内部加热器引起的。这种方法也可以与四点电导率测量法结合使用。

       该方法可以在环境温度高达1600ºC，从真空到高压（高压选项）以及任何类型的气体环境下完成。

       使用长度为3-4cm的条状样品可以实现最好的实验结果。样品可以是任意形状，但如果样品是长度比横截面长度更长的柱形样品，则更容易安装。圆盘状和薄膜状样品不像条状样品一样容易安装，因此电极触点必须（用Pt ink）粘在样品一边。

       对于如何测量小样本没有明确的限制，但是随着尺寸的减小，安装会更加困难，更重要的是，信号与误差之间的比率会变得更加不利。

       该方法涉及读取热电偶的电压和样品电压，将热电偶的电压转换成温度，计算温度差，并绘制有关样品电压和温度差的图。这个可由使用者自己完成，或使用Omega软件自动完成。NORECS提供多种温度下自动完成决定塞贝克系数所需的各种任务的全套系统，包括ProboStat样品架，高温炉，Omega软件，万用表以及内部加热的电源。

        ProboStat和Omega提供了业已证明的可重复的塞贝克系数测量方法，但用户也可以自由地更改设置以适应特定质量和每个样品所面临的挑战。各个方面的自由和自主掌控是获得精确结果的关键，而这些特点恰恰正在“一站式”系统中消失。

       通过在样品上增加两个电极，该方法可以与四点电阻测量法相结合，见塞贝克系数与电导率测量的结合。

       Seebsys—塞贝克系数与电阻的组合测量。